Project R-14079
Titel
ELEKTRISCHE SCANNING PROBE MICROSCOPIE (eSPM) - Geavanceerde nanoschaal morfologische en multifunctionele elektrische karakterisatie in gecontroleerde atmosfeer voor de studie van zonnecellen tot biologische materialen (Onderzoek)
Abstract
ELEKTRISCHE SCANNING PROBE MICROSCOPIE (eSPM) maakt het mogelijk om gecombineerd lokaal uit te voeren morfologische/elektrische karakterisering op nanoschaal en omvat technieken zoals Geleidende atoomkrachtmicroscopie (C-AFM), elektrostatische krachtmicroscopie (EFM) en Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), die extreem krachtig en veelzijdig is voor een hoge resolutie topografische, nano-elektrische en nanomechanische studie van een zeer breed scala aan materialen, variërend van moleculaire en biologische structuren tot elektronische en energietoepassingen zoals transistors, zonnecellen en batterijen.
Periode
07 juli 2023 - 06 juli 2027